凌华科技发布全系列高性能与高带宽PXI和PXI Express (PXIe) 机箱与模块等系列新品，该系列新品适用于电子制造测试、频谱测试、音频与视讯测试等多种高带宽的应用，包含下列三项新品:
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1、PXES-2590：业界第一款9槽全混和式PXIe机箱，支持高达8 GB/s数据传输。
2、PXI-9527：24 位PXI高分辨率动态信号采集与发生模块，支持高达432 kS/s的采样率、4组独立信号采集模块，适用音频噪声检测应用。
3、PXIe-9842：14位200 MS/s采样率PXIe数字化仪，适用高动态信号采集等应用。
除此之外，凌华科技已于2011年第四季发布搭载Intel Core i5处理器的3U PXI Express嵌入式控制器—PXIe-3975，也为该PXIe系列产品之一，提供客户更完整的量测应用需求。
“凌华科技为PXI系统联盟的协会董事会及最高等级会员，也是唯一一家亚洲PXI专业制造商。多年来相继开发超过100个以上的PXI产品，为适应各类型高端PXI及PXI Express测试平台日益增长的需求，我们将持续扩展我们的PXI及PXI Express产品线。”凌华科技量测与自动化产品事业处资深总监吴幼倩表示。“近期发布的PXI Express系列新品，即针对高端与高数据传输的需求所设计，适合信号智能、频谱分析等应用。”
凌华科技PXI机箱系列
PXES-2590：全混合式插槽PXIe机箱，满足高数据传输需求
凌华科技PXES-2590为市场首款 3U全混合式插槽的9槽 PXI Express机箱，所有外围槽都是混合式插槽的机箱设计，可提供用户在系统规划上最大的弹性，无论是PXI、PXI Express、CompactPCI、CompactPCI Express规格的模块均可配置于PXES-2590当中，系统可提供最高达8 GB/s的高带宽量，同时所有的外围槽均拥有高达1 GB/s的独立插槽带宽，满足模块高数据传输的需求。
凌华科技PXES-2590同时拥有多项创新设计，如风扇设计、电源方案与智能型机箱监控功能等，能确保系统的稳定性，降低使用者的维护成本。例如机箱独特的风扇配置，能导引冷空气从机箱下方吸入后，将热空气由机箱后方排出，可有效维持机箱内温度的稳定;同时将风扇与电源的噪声，隔绝于机箱本体模块之外，以避免这些高敏感度的PXI模块，如RF模块等，受到噪声的干扰;PXES-2590机箱配置智能型机箱监控功能，可持续监控机箱内温度、风扇转速与DC电压，以确保系统稳定性。此外，PXES-2590机箱特别针对便携式应用需求，提供可选购的LCD显示器与键盘套件模块，提高系统使用的灵活度。
PXI-9527：PXI接口24 位高分辨率动态信号采集与发生模块，具备独立IEPE电流源
凌华科技PXI-9527为24 位的PXI高精度动态信号采集模块，专为音频、噪声检测应用所设计，采样率可达432 kS/s，相比市场上同类产品，无论在采样率或性价比上，均有更突出的表现。同时支持多款操作系统如Windows 2000/Vista/XP/7等，并可轻松整合LabVIEW及Matlab等开发软件，有效缩短客户系统验证与产品上市的间。此外，凌华科技PXI-9527同时也提供“动态信号小帮手” (Dynamic Signal Assistant) 开发工具，简洁的参数设定与操作画面，让使用者轻松上手，利于客户进行简易检测应用。
此外为满足不同的量测应用需求，凌华科技PXI-9527提供了从正负0.316伏到正负40伏范围内的多种输入及输出档位供客户选择使用，并在各输入通道上设计有独立的IEPE电流源电路，用户可直接搭配传感器使用，例如加速规或麦克风等，无需再外接信号调理电路。
PXIe-9842：高速高精度PXI Express总线数字化仪
凌华科技PXIe-9842为单通道、14位高速高精度PXI Express接口的Digitizer(数字化仪)，采用PCI Express x4总线接口，采样率高达200 MS/s，并通过简洁的模拟接口设计，支持高动态信号的量测范围。PXIe-9842具备100 MHz高带宽传输能力及50欧姆电流阻抗设计，能有效率精准的采集正负1伏高速信号，适用于需求高动态范围频域分析的应用，例如高频无线电波频谱监控、光纤讯号检测、军事应用中的雷达信号采集等相关产业。
PXIe-3975：搭载Intel Core i5处理器的PXI嵌入式控制器，适用高带宽多任务处理
PXIe-3975是凌华科技于2011年第四季推出的亚洲首款3U PXI Express嵌入式控制器，其搭载Intel Core i5处理器及QM57芯片组，专为混合型测试系统所设计，提供丰富的接口控制以整合各种仪器，可支持高达2 GB/s的高速系统传输带宽，为整体系统效能带来显著的提升，实现流畅的多任务处理效能体验，适用于通用型量测应用及电子制造测试等应用。
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